2012 Cilt 17 Sayı 2
Permanent URI for this collectionhttps://hdl.handle.net/11452/11682
Browse
Browsing by Author "Uludağ Üniversitesi/Mühendislik-Mimarlık Fakültesi/Elektronik Mühendisliği Bölümü."
Now showing 1 - 2 of 2
- Results Per Page
- Sort Options
Item Dielektrik yüklü bir mikrodalga rezonatöründe sonlu farklar zaman uzanımı yöntemiyle dinamik sıcaklık analizi(Uludağ Üniversitesi, 2012-05-17) Kent, Sedef; Süle, Okan; Uludağ Üniversitesi/Mühendislik-Mimarlık Fakültesi/Elektronik Mühendisliği Bölümü.Bu çalışmada, günlük hayatta ve endüstriyel uygulamalarda yaygın olarak kullanılmaya başlanan mikrodalganın, mikrodalga ısıtma açısından incelemesi dikdörtgen bir mikrodalga rezonatörü için yapılmıştır. Mikrodalga ısıtmanın verimini belirleyen, rezonatör içindeki alan dağılımlarıdır. Alan dağılımlarının bulunmasında, kullanım kolaylığı ve işlem süresinin azlığı gibi sahip olduğu avantajlar sebebiyle sonlu farklar zaman uzanımı (FDTD) yöntemi nümerik metot olarak seçilmiştir. Sıcaklık analizi iki farklı malzeme için aynı rezonatörle yapılmıştır. Malzemelerin dielektrik sabitleri sıcaklığa göre değişen bir fonksiyon olarak ifade edilerek iki boyutlu sıcaklık haritaları ve farklı noktalar için tek boyutlu zamana bağlı sıcaklık değişimleri bulunmuştur. Elde edilen sonuçların doğruluğu Ansoft HFSS programı ile karşılaştırılarak verilmiştir. Sonlu farklar zaman uzanımı (FDTD) yöntemi ile elde edilen sonuçların Ansoft HFSS programı ile elde edilen sonuçlarla uyumlu olduğu görülmüştür.Item LED’in darbeli yüksek akımlarda bazı karakteristiklerini ölçme yöntemleri ve ölçmenin doğruluğunun belirlenmesi(Uludağ Üniversitesi, 2012-08-01) Özütürk, Erdem; Uludağ Üniversitesi/Mühendislik-Mimarlık Fakültesi/Elektronik Mühendisliği Bölümü.Bu çalışmada uygun ölçme devreleri kullanılarak, LED’in darbeli yüksek akımlarda bazı karakteristiklerini ölçme yöntemleri araştırılmaktadır. Ölçülen büyüklüklerde hata oranının yeterince küçük olması gerekmektedir. Ölçme bölgesinde ölçme devreleri doğrusal ölçme yapmalıdır. Ölçme sonucu karakteristiklerde gözlenen değişiklik ölçme düzeninde oluşan başka bir etkiden dolayı oluşmamalı, ölçülmek istenen büyüklükteki değişimden kaynaklanmış olması gerekmektedir. Burada açıklanan ölçme yöntemlerinde düşük bir hatayla doğru ölçme yapıldığı ispatlanmaktadır.